エックス線回折装置（9kW 開放管・Cu） Rigaku，SmartLab X線ビームを試料に照射して，物質の構造（原子配列など）を観測するために使用． SmartLab用　試料加熱装置
エックス線回折装置（Mo管球） Rigaku，Ultima IV X線ビームを試料に照射して，物質の構造（原子配列など）を観測するために使用．	卓上走査電子顕微鏡（日本電子製） NeoScope HCM-5000 / NeoCoater
エックス線回折装置（Cu管球） Rigaku，RAD-C X線ビームを試料に照射して，物質の構造（原子配列など）を観測するために使用．	エックス線回折装置（Mo管球） Rigaku，RINT2200 X線ビームを試料に照射して，物質の構造（原子配列など）を観測するために使用．
ラマン分光器	極小角光散乱測定装置
示差走査熱量計（DSC） Rigaku，DSC8270 試料に対して熱分析を行うために使用．	密度計 （株）島津製作所，アキュピック1330 試料体積を測定し，試料密度を求めるために使用．
電気化学測定装置 AUTOLAB 主に蓄電池やイオン伝導体の特性評価を行うために使用．	ガスチャージ装置 温度を制御しながら試料に対してガスチャージを行う装置。水素吸蔵材料のPCT（圧力－組成－温度）特性を評価することも可能。
LCRメーター Wayne Kerr，6440B型 周波数範囲：20Hz ～ 3MHz 試料のインピーダンス測定を行うために使用．	差動型示差熱天秤（TG-DTA） Rigaku，TG-DTA8120H-KFS2 試料に対して熱重量測定・熱分析を行うために使用。
電気化学測定システム(左) (ポテンショガルバノスタット，周波数応答アナライザ) Solartron，12608W型 周波数応答範囲：10μHz ～ 1MHz （1260単体モード時：10μHz ～ 32MHz） 制御電圧・電流：±14.5 V，±2 A 主に蓄電池やイオン伝導体の特性評価を行うために使用． 超高温加熱制御システム (UHT-Z-1000型)（右） 温度制御範囲 ：室温〜 1000℃ サンプル雰囲気制御可 アノード／カソード別ガスポート有 真空引き、不活性ガス ､H2 /O2 ガス流入制御 温度安定性 ：± 1℃ 　 周波数特性 ：DC 〜 100kHz